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芯片检测仪激发光应直接射向微阵列上的待测样品,通过大量一次照明的方式,待测样品的大部分区域同时受到激发,这种方式在CCD数码相机中较常见,该方式的缺陷是待测样品受到的激发光不够均匀一致。这点是芯片检测仪设计者须考虑到的重要因素之一。
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电话:13958186262 / +86 (571) 56231126
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